- 2022-02-17
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斷口分析
背景介紹
斷口分析包括宏觀分析和微觀分析兩種方式。宏觀分析只需要借助放大鏡和低倍顯微鏡，在低的倍數(shù)下就能夠?qū)嗫谶M(jìn)行觀察分析，得出斷口表面整體的概貌特征，能 在一定程度上了解破壞的原因;微觀分析是在宏觀分析的基礎(chǔ)上通過電子顯微鏡等儀器進(jìn)一步找出斷裂的途徑、性質(zhì)、環(huán)境介質(zhì)及溫度等對(duì)斷裂的影響，并進(jìn)一步確 定斷裂的原因及機(jī)理等詳細(xì)情況。
檢測(cè)項(xiàng)目及設(shè)備
宏觀斷口分析
通過宏觀斷口分析，可以判斷斷裂的性質(zhì)及斷裂事故的全過程，為進(jìn)一步開展顯微斷口分析提出目標(biāo)和任務(wù)。宏觀斷口分析是顯微斷口分析的前提和基礎(chǔ)。
檢測(cè)設(shè)備：讀數(shù)顯微鏡，體式顯微鏡
顯微斷口分析
斷口的顯微分析是通過光學(xué)顯微鏡和掃描電鏡來實(shí)現(xiàn)的。由于景深的限制，光學(xué)顯微鏡只能粗略的觀察解理斷口和疲勞斷面等較平整的斷口，而不能觀察具有明顯塑性 變形的穿晶斷口和沿晶斷口，即使對(duì)平整斷口也很難進(jìn)行大面積的連續(xù)觀察而且分辨率低。但是光學(xué)顯微鏡能對(duì)斷口上某些組織結(jié)構(gòu)進(jìn)行偏振光分析，還可以觀察斷 口不同區(qū)域的顏色變化，這對(duì)斷裂性質(zhì)的診斷具有重要的作用。掃描電鏡景深很大，可以研究粗糙的斷口表面，且可以獲得清晰的圖像。放大倍數(shù)可以連續(xù)在10倍 到10萬倍之間變化，便于對(duì)斷口細(xì)節(jié)進(jìn)行觀察。
檢測(cè)設(shè)備：金相顯微鏡，掃描電鏡
